仪器简介

　　非线性光学是信息光电子及光子器件物理的基础之一。掌握晶体及高分子聚合物中二阶，三阶非线性光学现象，发现新现象、新原理和新方法，为发展新材料、新器件提供依据；为发展器件制备的新工艺、新方法和新技术提供手段。XGX-1型光学非线性测量仪，其结构新颖、价格适中、功能完善，完全适合各高等院校教学和科研的需求。

仪器特点

    采用激光Z扫描技术。它的光路简单（采用单光束），测量灵敏度高，直接测量开孔、闭孔及光斑信息，同时测量非线性折射率和非线性吸收系数。多种探测器对光信号进行测量（光电倍增管、硅光电池、CCD）。采用计算机（Windows 多档画面）实现自动控制和测试。配有多种附件，适用于液体、固体样品的测量，USB接口。

• 光谱背景基线记忆
• 光谱数据平滑运算
• 光谱数据累加运算
• 光谱数据四则运算
• 光谱数据微分运算
• 光谱文件管理
• 光谱刻度扩展
• 光谱峰值检出
• 归一化透过率
• 理论模拟图形

仪器参数

Z扫描范围 -50mm ~ +50mm
采样间隔 　0.1 mm, 0.2mm, 0.5mm
　　　　　 1mm , 2mm , 5mm
接收器 　　光电倍增管（CR114）、硅光电池、CCD
测量模式 　二 种 （透过率、能量）
扫描速度 　三 档 （快、中 、慢）
扫描方式 　连续、重复、时间扫描
电 源 　　 AC220V50Hz

系统成套性

包括光学非线性测量仪主机、电箱、操作软件、接收器件、吸收池、计算机及彩显等。

 可选附件