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| 货号：891503916 点击 2553 次 |
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ZS82四探针测试仪
产品介绍： |
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适用范围：
该仪器运用四指针原理可对片状、块状、半导体材料径向、轴向和薄膜材料的电阻率及扩散层的方块电阻进行测量、可测量分子材料、新型材料的深层及材料电阻率等适用于半导体材料、器件、高等院校高分子材料等、科研单位等. |
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产品特点：
3 1/2位数字显示
四指针测量精确可靠
可测方块电阻,电阻率,电阻
带恒流源输出 | 技术参数：
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项目\型号 |
ZS82 |
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电 阻 率 |
10的负4次方—10³Ω—㎝ |
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方块电阻 |
10的负13方—10的4次方Ω/口 |
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电 阻 |
10的负6次方—10的5次方Ω |
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恒流源输出 |
0—100mA |
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电压范围 |
0.2mV—2V |
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测量误差 |
±0.5%读值±2个字 |
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分 辨 率 |
0.1μV |
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探针间距 |
1㎜ |
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显示方式 |
3½ 、LED |
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功 耗 |
<35W |
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外形尺寸㎜ |
400*445*120 |
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净 重 |
<10㎏ |
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品名 |
规格 |
包装 |
备注 |
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ZS82四探针测试仪 |
主要技能性能：方块电阻：10的负13方μΩ—10的4次方Ω /口.电阻：10的负6次方μΩ—10的5次方Ω电阻率:10的负4次方μΩ—10³Ω—㎝ 精度：≤±0.5%读值±2个字 |
1套 |
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ZS82探芯（附件） |
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1 |
主要技能性能：另配. |
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ZS82测试架（附件） |
. |
1 |
另配. | |
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