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◆AZ530-M磁场探头
对于被测系统，磁场给出一个电压结果，它的大小比例存在于探头处的射频场强的部分。用这个探头，几乎可以区分出每一个电路的射频源。这是由于现代电子产生的干扰源都是低阻抗的（相对小的电压变化造成大的电流变化）的原因。发射的干扰源就在它的地方直接产生射频磁场。磁场从近场过渡到远场，从源到377Ω的自由空间阻抗的远场，过渡的关系是：H场的大小与离源距离的立方成反比（即按立方关系减小）。离源距离增加1倍，导致H场降到1/8。
实际使用磁场探头时，可以从探头电压的迅速增加来确定干扰源的位置。即使是针对某一块电路板，也很容易找出这个干扰源的位置。可以知道是哪一只IC（集成电路块）产生的干扰，哪一只没有产生干扰。可以测得哪个频率上有最大的幅度。这样，就可以早期发现采用的哪个元器件没有达到EMC规定的目的。同样，实施反证测量然后再做判断是很容易的。可以研究电缆或电线传导干扰所附有“泄漏区”，研究屏蔽的效果。
◆AZ530-E电场单极探头
在这3种探头中，E场单极探头有最高的灵敏度。它的高灵敏度足够使它作为一根天线，对无线电广播或电视信号进行接收。用它就可以对一个电路或设备的整体发射实行测量。
譬如说用它来确定屏蔽是否有效？用这个探头，可以测量RFI滤波器的有效性。这些RFI是沿着设备引出的电缆线而产生的。它们原来影响整体的发射指标，现在加了滤波器，效果怎样？此外，E场探头还可用来做鉴定测试的相对测量。为挽救与改进RFI状况，通过它便能方便地测量，所以它给要正式认证鉴定的产品提供下面的作用。正因为已经经过它实行了预检测试，所以正式提交鉴定测试时就处之泰然了。
◆AZ530-H高阻抗探头
高阻抗探头可对个别的接点，或者印制电路板导体，直接接触来检测射频干扰（RFI）情况。该探头有很高的阻抗（近似于印制电路板材料的绝缘电阻值），对电路的测量点的负载只有2pF（1GHz时为80Ω）。所以它可以与电路直接接触而不给电路带来明显的影响。
例如可以用它来定量地测量滤波器或其它的隔离措施的有效程度。IC的个别引脚可以看作是一种RFI源。可以用此探头来追踪印制电路板上有问题的地方。通过高阻抗探头，电路的个别测量点就可以连接到频谱分析仪的50Ω输入端口去。 | 
